新一代SLT測(cè)試分選一體機(jī)介紹
支持大容量存儲(chǔ)IC系統(tǒng)級(jí)測(cè)試(eMMC、UFS、Nand Flash、SSD、eMCP,LPDDR,UMCP等)的SLT系統(tǒng)級(jí)測(cè)試分選一體機(jī)
? 超長(zhǎng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng),超大容量測(cè)試向量數(shù)據(jù)
? 支持up to 1024 site同時(shí)測(cè)試
? 昂科經(jīng)典4-8吸嘴 Pick & Place 芯片高精度取放組件
? 1 in / 5 out BIN 全自動(dòng)進(jìn)出料及分BIN系統(tǒng)
? 昂科專(zhuān)利疊料檢測(cè)技術(shù),支持3中不同疊料檢測(cè)方式
? 支持CCD視覺(jué)檢測(cè),精準(zhǔn)定位IC(±0.02mm)
?UPH up to 1800,(25min長(zhǎng)測(cè)時(shí))
? 支持常溫/高溫測(cè)試,up to 150℃
?可同時(shí)滿足 Open Top和旋鈕式測(cè)試座
? 可選Laser Marking鐳射標(biāo)記系統(tǒng)
?完善的進(jìn)出料AOI系統(tǒng),可選3D5S檢查
? 精密調(diào)壓閥(0.01MPa)
? 支持WLCSP和各種極小尺寸封裝的測(cè)試
? 對(duì)接MES制造執(zhí)行系統(tǒng)使得測(cè)試過(guò)程全程可控、可追溯
? 芯片任意數(shù)據(jù)的寫(xiě)入、讀取和校驗(yàn);
? USB 3.0速率;
? 4-8個(gè)通道任意配置;
? 溫度范圍:-55 ℃ ~+125℃,滿足高低溫、高溫、潮熱、重復(fù)上下電等環(huán)境下測(cè)試
? 實(shí)現(xiàn)預(yù)設(shè)次數(shù)的自動(dòng)擦寫(xiě)壽命
? 軟件功能:循環(huán)次數(shù)、寫(xiě)入時(shí)間,擦除時(shí)間,校驗(yàn)時(shí)間,讀取時(shí)間、寫(xiě)入數(shù)據(jù)量,寫(xiě)入速度,擦除速度、校驗(yàn)速度、讀取速度。
? 按照UFS 2.1技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)記錄芯片的健康信息。
? 自動(dòng)統(tǒng)計(jì):總數(shù)據(jù)寫(xiě)入量TBW、擦寫(xiě)時(shí)間、平均擦寫(xiě)速度(時(shí)間)、數(shù)據(jù)變化等
UFS參數(shù) | 平均值 | 標(biāo)準(zhǔn)差 | 中位數(shù) |
運(yùn)行時(shí)間(s) | 4207.43 | 287.38 | 4296.87 |
擦除時(shí)間(s) | 0.73 | 0.19 | 0.63 |
寫(xiě)入時(shí)間(s) | 3225.52 | 284.08 | 3316.66 |
讀取時(shí)間(s) | 979.50 | 8.65 | 980.91 |
寫(xiě)入速度(MB/s) | 38.23 | 4.52 | 36.80 |
讀取速度(MB/s) | 124.62 | 1.10 | 124.43 |
數(shù)據(jù)量(B) | 127984992256 | 127984992256 | 127984992256 |
器件壽命信息 | 01h: 0% - 10% device life time used |
高溫擦寫(xiě)壽命統(tǒng)計(jì)信息
效果
? 獲得汽車(chē)級(jí)UFS存儲(chǔ)器的極限工作溫度、性能下降拐點(diǎn)溫度….
? 獲得擦寫(xiě)壽命、數(shù)據(jù)保持壽命……
? 實(shí)現(xiàn)了汽車(chē)級(jí)存儲(chǔ)器的可靠性應(yīng)用驗(yàn)證。
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